X荧光光谱仪 X荧光光谱仪GX-300A

X荧光光谱仪
分析原理：能量色散 X 射线荧光分析法
分析元素：Na ～ U 任意元素
检出下限(Cd/Pd)：Cd/Pb/Hg/Br ≦ 2 ppm, Pb ≦5 ppm
样品形状：任意大小，任意不规则形状
样品类型：塑胶 / 金属 / 薄膜 / 粉末 / 液体

X荧光光谱仪
X 射线管：
靶 材：Mo
管 电 压：5 ～50 kV
管 电 流：*大 1 ～ 1000 μA
照射直径：2 、 5 、 8mm 自动转换
探 测 器：Si(PIN) 半导体高分辨率探测器
滤 光 片：八种新型滤光片自动选择
样品定位：微动载物平台（选配）
样品观察：30 倍彩色 CCD 摄像机
微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）
软 件：定量分析：α系数法 WINDOWS XP
数据处理：
主 机：PC机
内 存：256 MB 以上
硬 盘：40 GB 以上
OS：Windows XP
工作环境：温度：10 ～ 35 ℃，湿度：30 ～70%R H
電 源：AC 220 V ± 10 % 、50/60 Hz
功 率：1.1kW
重 量：40Kg
外形尺寸：550(W) × 450(D) × 450(H)mm