宇时UM-2超声波测厚仪

宇时UM-2超声波测厚仪

宇时UM-2超声波测厚仪的技术参数：
·工作原理：脉冲～回波方式。
·测量范围：0.8～300mm (取决于所用探头、所测材料、表面状况)。
·单位和显示分辨率：毫米-0.01，0.1；英寸-0.001，0.01。
·探头零点校准：一点校准（用于常规的厚度测量）；
                两点校准（测量曲面壁厚或特殊应用时，可显著提高测量精度）。
·V路径修正：自动V声程修正，补偿双晶探头的非线性度。
·示值误差：±0.05mm  (10mm以下)；±0.5% H+0.01  (10mm以上)  注：H为被测物厚度。
·重复性：±0.05mm。
·显示屏：128×64点阵液晶屏（42×57毫米）,
  具有EL背光，可调节对比度, 厚度值数字高度可达13.75毫米。
·测量刷新频率：常规测量时4Hz，*小值扫查时25Hz。
·材料声速范围：1000～9999m/s，0.0394～0.3937in/us。
·数据存储：划分5个数组，可存储500个厚度值。
·工作语言：中文、英文。
·电源：两节1.5VAA电池,当电池电量不足时，有低电压提示。
·操作时间：两节5号电池，使用时间可达200小时。
·自动关机：5分钟无操作后自动关机。
·工作温度：-10℃～+50℃，有特殊要求可达-20℃。
·尺寸：149mm×73mm×32mm (H×W×D)。
·重量：含电池200g。
宇时UM-2超声波测厚仪的标准配置:
·测厚仪主机1台,
·标配Φ8探头1只,
·碱性电池2节,
·耦合剂1瓶,
·操作手册1本,
·合格证1份。
宇时UM-2超声波测厚仪的可选配件:
·橡胶外套；
·可供选择的探头；
·校准用阶梯试块；
·耦合剂及高温耦合剂。