X荧光光谱仪UX-310_食品机械设备供应网

产品详情

针对RoHS检测设计开发
测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳
分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br
提供专业玩具安全检测,亦可用于测量镀层厚度和全元素分析

全自动X荧光光谱仪UX-310配置与参数
探测器	Amptek X-123 配置原厂MCA
高压电源	Spellman MNX50P50
X光管	丹东专用X光管 Mo靶
自动化操作系统	华唯砖利设计实现：原级滤光片、准直器、二次滤光片、样品及测试区域定位、样品盖开关、工作曲线选择全自动
分析软件	UX-310专用版 V6.0 多元素分析软件、镀层膜厚分析软件（二选一）
技术参数
仪器尺寸	570 (W)* 470(D)*480(H)mm
样品腔尺寸	小样品腔：300(W)300(D)100(H)mm；大样品腔：无限制，小于30公斤
重量	净重:50Kg
工作环境	15—30℃ 相对湿度≤85%(不结露)
可分析元素范围	K-U
*低检出限	Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm ,Pb≤5ppm
测量时间	200-400s
探测器*佳分辨率	149±5eV
电源	AC 220V ± 10%，50Hz 1000W
选配件
多元素分析软件、膜厚分析软件（二选一）
六价铬测试仪（可进行六价铬的定量分析）
真空系统（可真空测氯，*低检出限≤50PPm）

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