美国PE电感耦合等离子体发射光谱仪ICP AVIO550

产品详情

1、光学系统

（1）所有光学元件均密封于35-38℃恒温光室中，保证优异的长期稳定性。

（2）中阶梯光栅+棱镜交叉色散多色器系统，波长连续覆盖167〜900nm，无任何波长断点。

（3）测定方式：紫外和可见区由同一狭缝，同一检测器同时测定，一次分析测定全谱覆盖，真正的全谱直读。

（4）波长校正: 采用氩的发射谱线自动进行周期性的波长校准, 保证分析波长的正确性。

（5）吹扫型光室：对189nm以下波长测定，可选择氩气或者氮气进行光路吹扫。

（6）分辨率：光学分辨率≤0.007nm (在As 188.980nm 处实际测量半峰宽) 。

2、检测器

（1）CCD检测器设计。

（2）检测器冷却：半导体制冷，温度≤－8℃，暗电流和背景噪音低，检测器充氮密封，无需气体吹扫，开机即可点火，提高分析效率，降低气体消耗。

（3）防饱和溢出：针对每一个像素进行防饱和溢出保护，消除谱线饱和溢出问题。

（4）积分方式：智能化积分，同时以信噪比获得高强度信号和弱信号，使高低含量元素可以同时检测。最小积分时间≤1s。

（5）检测器采用1MHz的数据读取速度，只需0.8秒即可完成检测器上所有像素结果的读取，双面数据输出。

3、射频发生系统

（1）自激式40.68MHz固态发生器，耦合效率大于81%。

（2）功率范围：750〜1500W，连续可调。

（3）高效强劲的自激式固态发生器轻松应对从无机到有机各种复杂基体的样品，快速的功率反馈速度确保样品基体变化时仍然获得稳定准确的结果。

4、观测方式

（1）垂直炬管设计，一次进样完成轴向和径向双向观测

（2）尾焰去除：采用的免维护垂直尾焰切割技术，高效出去尾焰。避免了冷锥接口测定低含量样品时候的污染问题，避免了冷锥的清洗维护问题。

（3）采用的无接触垂直尾焰切割技术，仪器标配空压机，无需消耗气体，

（4）观测位置调节：等离子体观测位置由计算机控制。

5、进样系统

（1）标配一体化炬管，快速插拔式设计，无需气体管路连接和炬管准直定位，便于安装和维护，其它多种类型的炬管可选，同时可配置中心管为陶瓷或者石英的可拆卸式炬管。

（2）气体控制：所有气体均为质量流量计控制，等离子体气：8〜20L/min，增量0.1L/min；辅助气：0〜2.0L/min，增量0.01L/min；雾化气0-1.5L/min，增量0.01L/min；

（3）蠕动泵：≥4通道蠕动泵。

（4）雾化器压力可以由用户自己设定阈值，当压力低于阈值下限或超过阈值上限的时候，软件会弹框提示雾化器压力异常。

（5）配置高级采集阀，具备提升样品通量，降低氩气消耗，延长进样系统（炬管，雾化器，雾化室，蠕动泵管）使用寿命，降低后期维护消耗的功能，具备如下特点：快速获得准确结果，在下一个样品进入仪器的同时冲洗样品引入系统，运行成本更低，每个样品的氩气消耗量可减少至少50%，高度集成化，集成于 ICP-OES 硬件中，交叉污染更少，在样品和冲洗溶液之间注入氩气气泡，能够减少 ICP-OES 雾化室中的交叉污染等。

（6）配置跟ICP-OES同品牌自动进样器，适用于原子光谱应用的新一代高性能自动进样器，可兼容同品牌AA，ICP-OES，ICP-MS，专为满足需要快速、大容量、可靠自动进样器的高通量实验室需求而设计，同时体积小巧、运行安静，≥350位进样位，集成式防护罩选件保护您的样品与实验室环境，多种探针尺寸供选择，满足各种应用需求。

6、软件性能

（1）计算机全自动化控制，仪器设置和参数选择可自动完成，包括气体流量、功率、点火、诊断等。具有自动安全连锁系统。

（2）背景校正功能：包含传统的单边、双边离峰法背景校正技术，同时，具备多点自动拟合法背景校正技术。

（3）具有谱图自动解析功能。

（4）多重检量限功能：根据不同的元素含量范围选择不同的谱线，使仪器能够同时测定高低含量的元素，使仪器的动态线性范围得到扩展。

（5）提供多种光谱分析方法：如标准比较法、内标法、干扰元素校正系数法（IEC）、标准加入曲线法等

（6）数据存取：所有结果、方法和顺序可以在同一工作页面一起保存和读取；谱图、结果和标准曲线同时显示；实时图形显示光谱信号、结果和曲线谱图；快速运行过往数据的编辑。

（7）数据输出：提供多种报告打印和数据输出格式。

（8）远程诊断功能：远程诊断—Web连接使远端的技术服务部门和应用支持部门能够对仪器实现远程控制和维修诊断。

（9）可实现快速全谱扫描，对样品中所有元素进行定性和半定量分析，并且可以设定阈值，实现样品的快速筛选，并且可以跟样品定量分析在同一个工作列表中，实现每一个样品的全元素监测。

（10）有内标监测图，可以更直观准确的监控做样过程，快速的做出响应

7、性能指标