Hatachi日立XE-NSOM近场扫描光学显微镜

Hatachi日立XE-NSOM近场扫描光学显微镜

XE-NSOM –用于各种光学应用的完备的AFM 系统

XE-NSOM是Park Systems专为高级光学研究而精心设计的一款专业产品，该仪器具备近场扫描光学显微镜(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光谱仪 (Raman Spectrometry)和共聚焦显微镜（Confocal Microscopy）功能。XE-NSOM 为此类光学实验提供了一整套性能可靠功能齐全的研究检测系统。

技术参数(机械部分)：

1. XY扫描器：100μm×100μm（闭环）
2. Z扫描器：12μm (可选配25μm)
3. 水平度：100μm线扫描垂直偏差不超过2nm
4. 样品台移动范围：4mm（X/Y），27.5mm (Z)
5. 成像方法： AFM, NSOM
6. 光学观察：垂直光路设计，可直接观察微悬臂和样品

技术参数(NSOM部分)：

1. NSOM激光光谱：400~900nm
2. 可根据透射或反射NSOM测量要求选用有孔或无孔微探针
3. 光子检测：APD 或PMT

技术参数(电子部分)

1. 微处理器：600MHz，4800MIPS DSP
2. 模数/数模：16位，500kHz采样频率
3. 图像采集：同步自动采集16幅图像，分辨率高达4096×4096像素
4. 通讯方式：采用基于TCP/IP协议的通讯方式与计算机联接
5. 符合CE认证标准

主要特点：

专业NSOM和Raman-AFM测量系统
一、 原子力显微镜和光学测量的*结合
二、 科学的光学设计提供了更宽的观测角度
三、 多功能的平台可满足反射和透射测量要求
四、 适宜光子检测的便捷式光轴调节系统
五、 便于产品升级的模块化设计思想