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硅棒少子寿命测量仪 Sinton BLS-40

  • 产地
  • 所在地
  • 美国
  • 上海上海

更新时间:2021-07-13

有效日期:已过期

产品详情

Sinton BLS-I少子寿命测量仪

BLS-I测量系统用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块 体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目

BLS-I测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命.
是基于涡流传感器和红外光致光电导方法直接测量单晶或者多晶硅棒体少子寿命的设备,具有瞬态和准稳态两种测量模式。该设备可探测3mm 深度范围少子寿命,并能输出不同载流子注入水平下的少子寿命值,可实现低电阻率硅单晶少子寿命测量,并能通过软件端光强偏置实现单晶缺陷密度计算。

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发布询价单

上海瞬渺光电科技有限公司

型:
代理商
联系人:
Eric.qin

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商家概况

主营产品:
“Sinton少子寿命测试仪”“四探针电阻测量仪”
公司性质:
代理商

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