高精度自动薄膜测厚仪

高精度自动薄膜测厚仪性能特征：
（1）严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制；
（2）测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差；支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择；
（3）实时显示测量结果的大小极限值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断；
（4）系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能，方便快捷地获取测试结果；
（5）高精度传感器，保证了测试误差；自动进样器，可一键实现全自动多点测量，人为误差小；具有多做测量结果准确保障；
（6）配备标准RS232接口，方便系统与电脑的外部连接和 数据传输；它是在1970年由美国电子工业协会（EIA）联合贝尔系统、调制解调器厂家及计算机终端生产厂家共同制定的用于串行通讯的标准。它的全名是“数据终端设备（DTE）和数据通讯设备（DCE）之间串行二进制数据交换接口技术标准”），便于系统的外部连接

高精度自动薄膜测厚仪技术参数：
专业名称：测厚仪
测量范围：0-2mm （其他量程可定制）
分辨率 ：0.1um
测量速度：10 次/分（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜），200mm2（纸张）    注：薄膜、纸张任选一种
进样步矩：0 ～ 1300 mm(可调)
进样速度 ：0 ～ 120 mm/s(可调)
外形尺寸：450mm×340mm×390mm
重量：23kg
标准配置：测厚仪主机、标准量块、微型打印机
选用配置：专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、自动进样器